一、线绕电阻时间常数的测量（论文文献综述）
潘仙林[1]（2013）在《准确测量四端电阻时间常数的关键技术研究》文中认为建立四端电阻时间常数标准是实现交流阻抗准确测量及交流电量计量量值统一的关键，同时也是目前国际上在脉冲电流和宽频功率研究方向的热点问题。早在二十世纪初,国际上提出了几种特殊结构设计的计算样品，而样品中等效电感计算往往涉及到复杂的电磁场理论，且计算结果受样品本身结构尺寸测量准确性的影响而引起较大的不确定度。随着测量技术和仪器仪表的不断发展，国际上开始采用测量的方法直接对四端电阻的正交分量进行绝对定值，然而仪表误差及容性泄漏等影响是制约测量准确性的主要因素。目前，国际上普遍采用step-up（爬台阶）法来实现四端电阻量程扩展，该方法中所存在的串联“浮地”影响、测量仪表线性误差及多步传递所造成的不确定度累积是主要的影响因素。本论文工作回归问题的本质，灵活地应用了精密电磁测量中的替代法，针对准确测量四端电阻时间常数若干关键技术进行了深入研究。针对目前已有测量仪表无法满足在较大水平分量下直接准确测量四端电阻等效电感的问题，本文采用了结构替代法，即在相同结构下，将自行研制的“同轴拉线”结构四端电阻中高电阻率电阻丝替换成低电阻率电阻丝，从而减少了水平分量对正交分量所引起的影响，便于测量。为了进一步减少测量仪表的影响，本文研制了Q值高的四端互感，并深入分析了该互感结构中寄生电容、残余电感及引线电阻等参数的影响，采用电流电压转换法实现对互感的准确测量。采用替代法将四端电阻等效电感与已知的互感进行相互比较，将其溯源至我国已有的交流电压和交流电流国家标准，从而准确测量四端电阻中微小正交分量，确定该四端电阻的时间常数，为四端电阻量值传递提供了溯源依据。针对四端电阻串联连接时低端电位不一致而受有源仪表“浮地”影响而引起容性泄露误差的问题，本文采用二进制感应分流器的方法实现两路共地电流输出。详细分析了二进制感应分流器受比例绕组的激磁误差、容性误差及外接负载误差的影响，提出了电流一致性自校验的实验方法，同时研制三级感应分流器级联结构实现三路共地等电流输出，为四端电阻相互比较时提供了准确且关系已知的电流。针对目前国际上普遍采用step-up方法实现电阻量程扩展中存在的多步传递而引起测量不确定度累积的问题，本文采用电压比例技术，将不同阻值的四端电阻在相同电流下进行等电压测量，通过一步传递实现量程扩展。深入分析了二进制感应分压器和串并联结构电阻分压器的参数模型，并对其电压比例的相角偏差进行了自校验。结合二进制感应分流器和电压比例技术，建立四端电阻量值传递装置，满足1A100A四端电阻时间常数和相角偏差的溯源需求。本文采用该传递装置对实验室自行研制的10m1鼠笼结构四端电阻、100A互感式电流电压变换器和薄膜结构四端电阻的相角偏差进行了准确测量，其相角测量标准不确定度在200kHz频率下优于100μrad。针对四端电阻在传递过程中测量电流和工作电流不一致而引起的电流系数问题，本文采用三种不同类型的四端电阻1A100A电流范围进行相互比较，评估了四端电阻相角偏差的电流系数。因此，所建立的四端电阻时间常数标准和量值传递装置，实现了高频大电流四端电阻相角偏差的准确测量，也为我国今后建立宽频交流功率电能国家基准奠定了基础。
彭丽[2]（2004）在《10kV/35kV电子式电压/电流互感器研究》文中进行了进一步梳理电压互感器和电流互感器是电力系统中进行电能计量和继电保护的基本测量设备之一,其准确度及可靠性与电力系统的安全、可靠、经济运行密切相关。随着电力系统在监测、控制及保护等方面自动化和智能化要求的不断提高,传统的电磁式电压互感器和电流互感器因自身传感机理所限而呈现出种种难以克服的问题,已不能满足电力系统自动化、数字化的发展要求,基于电子技术、微机技术、光纤通信技术的新型电子式电压/电流互感器逐步引起人们的重视。 本文在分析总结电子式电压/电流互感器现有技术和发展趋势的基础上,针对所使用的中压等级的场合,确定了以电阻分压器的原理测量电压和 Rogowski 线圈原理测量电流的电子式电压/电流互感器为研究对象,并完成了如下工作: 1、选择了一种适合于中压电网测量且性能稳定的高压高阻型厚膜电阻器,从理论上分析了电阻分压器测量误差的来源,进行了相应的屏蔽设计,并制作了 10kV 和 35kV互感器样机。 2、针对中压等级的应用场合,设计了电流互感器的绝缘结构,并制作了额定电压10kV 额定电流 600A 和额定电压 35kV 额定电流 1250A/2000A 多台电流互感器样机. 3、过去制作 Rogowski 线圈时对其截面宽度和骨架半径的比值有一定限制,本文通过对 Rogowski 线圈工作原理的分析,取消了对截面宽度和骨架半径比值的限制,并从理论和试验两方面对该结论进行了论证。 4、针对中压开关柜的应用场合,根据微机保护部分的具体要求,设计了与之接口的二次电路,并采取了必要的抗电磁干扰措施。 2004 年 3 月,我们研制的 10kV、35kV 电阻分压式电压互感器样机在武汉高压研究所进行了型式试验。其中 10kV 样机通过了各项性能试验,准确度 0.2 级,是国内第一台通过权威部门检验的电阻分压式电压互感器。35kV 样机测量准确度达到 0.2 级,并通过了工频耐压、局部放电和二次设备耐压等试验,没有通过雷电冲击试验,为此,下一步我们将对 35kV 互感器加以改进,为其能够通过雷电冲击试验做好准备。 Rogowski 线圈电流互感器样机在实验室进行了线性度和角差等试验,达到 0.2 级的测量准确度。下一步要进行的工作是完善其绝缘结构,并在有关部门进行型式试验。
陈文豪[3]（2012）在《电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究》文中研究表明电子元器件低频电噪声是载流子微观运动的表现，其精确测量可为噪声特性、产生机理研究及其分析应用奠定基础。通过噪声测试能够有效验证电子元器件中与载流子输运相关的基础理论，同时能促进噪声现象的物理本源探索。电噪声的应用是噪声机理和噪声测试技术研究的目的之一。通过电子元器件缺陷、应力损伤、工艺水平、质量及可靠性等与低频电噪声的相关性研究，可发展基于噪声的表征方法，应用于元器件优化设计、工艺控制、质量评定和可靠性筛选等方面。本文系统地研究了电子元器件低频电噪声检测技术与应用方法。在测试技术方面，研究了偏置技术、低噪声放大技术、数据采集技术、噪声参数提取技术与测试误差分析方法。基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术，建立电子元器件低频电噪声测试系统。应用所研制的噪声测试系统，测试并分析了不同类型电子元器件的低频噪声。在噪声应用研究方面，对金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）、电阻器、光电探测器及微波与射频器件的噪声进行了测试，深入研究各元器件的噪声产生机理与模型。通过多种实验方法，提出或验证了噪声在元器件缺陷和可靠性等表征方面的应用。本文具体研究成果及创新点如下：（1）对噪声测试的简单直流偏置技术进行了改进，设计了基于桥结构的噪声测试偏置电路。对噪声测试的交流偏置技术提出了具体实现方案，同时比较了不同偏置源的噪声特性，设计制作了低噪声直流偏置源。（2）提出了并联结构的放大器设计，有效的降低了噪声测试系统放大部分的噪声。对电流放大技术进行了研究，提出了电流放大器的扩频测试方法。基于上述各技术，针对实际测试元器件建立了多套不同的噪声测试系统。（3）介观散粒噪声是元器件尺度缩小后出现的新噪声现象，本文重点研究了介观散粒噪声测试方法。根据散粒噪声特性，研究了散粒噪声测试的温度、偏置、频率和系统要求，提出了介观散粒噪声具体测试方法。在并联结构超低噪声放大器的基础上，建立了10K和77K的散粒噪声测试系统，并对该系统进行了验证测试。（4）通过对小尺寸MOSFET散粒噪声物理模型研究，建立了散粒噪声与背散射系数的关系，并据此提出了通过散粒噪声测试提取背散射系数的方法与步骤。此外，还探索了散粒噪声在MOS器件的可靠性表征中的应用。（5）分析了固定电阻器电流噪声系数测试国际标准中存在的问题，并提出了改正和改进方法。据此设计制作了电阻器噪声测试软硬件系统，并验证了本测试系统的合理性与准确性。在电阻器电流噪声系数测试的基础上，对薄厚膜电阻及电阻浆料噪声特性进行了测试研究。提出了通过噪声系数表征电阻浆料温度稳定性，以及噪声系数与功率谱密度共同表征薄厚膜电阻质量与可靠性中的方法。（6）搭建了光电探测器噪声测试系统。推导和实验验证了PbS多晶薄膜光导型红外探测器的1/f噪声和G-R噪声模型。提出了1/f噪声表征红外探测器表面缺陷态，以及G-R噪声测试提取不同温度下的深能级缺陷参数：缺陷激活能、载流子俘获截面的方法。对雪崩光电二极管进行了噪声测试，研究了基于噪声的可靠性表征参量和表征方法。（7）对微波与射频器件的噪声进行了较为深入的研究，分析了PHEMT器件噪声与潜在缺陷的内在联系。同时对微波与射频器件的热应力与静电应力损伤进行了分析，研究了其失效模式与失效机理。对多种样品进行了热应力与静电应力损伤前后噪声参数与电学参数的测试，并对测试结果进行了对比分析。提出高频器件的低频噪声参数表征方法，结果表明，噪声参数与电学参数在表征器件应力后的损伤方面具有一致性，此外部分噪声参量的表征灵敏度优于电学参数。如G-R噪声和1/f噪声幅度值在表征微波放大器热应力损伤方面具有较高的灵敏度，宽带噪声电压有效值能够反映射频放大器抗ESD能力。以上研究内容和成果一部分已经应用于实际生产和研究工作中，另一部分还处在探索研究阶段。这些研究能为进一步的噪声测试技术与应用研究奠定实验和理论基础。
汪洪潮[4]（2020）在《低温微量热器读出电子学系统的研究与设计》文中指出低温微量热器由于其很低的检测阈值、极高的能量分辨率等独特的优势广泛应用于各种物理学实验和技术研究中,诸如暗物质探测、中微子探测等。特别是对于无中微子双β衰变的探测实验,是前沿物理学最重要的研究方向之一,其实验结果对于物理学的发展有着重要的意义。目前国际上已经有多个大科学实验基于低温微量热器找寻无中微子双β衰变的踪迹,包括CUORE、AMoRE等。低温微量热器的输出信号依赖特定的读出电子学系统进行处理和测量,读出电子学系统的性能将极大的影响微量热器系统的能量分辨率。国外针对无中微子双β衰变实验所使用的微量热器特别设计了多种读出电子学系统,经过超过三十年的优化和更新,目前已经相对成熟。而国内关于微量热器读出电子学系统的研究尚未有公开的成果。本文面向基于CdMoO4闪烁晶体的低温微量热器,根据微量热器的理论模型分析了其输出信号特点,总结了读出电子学的系统需求。根据需求,将微量热器的读出电子学系统设计为多个电路模块,包括可调的低噪声直流偏置电路,超低噪声、超低输入电流的前置放大电路,低噪声、线性相位的抗混叠滤波电路,高分辨率的模数转换电路。根据实际测试,微量热器读出电子学系统各模块均工作正常,关键指标已经接近国际上公开的成果,达到了设计要求。
马红军[5]（2020）在《大电流导体直流性能测试装置研制与实验研究》文中研究指明大电流超导导体广泛应用于聚变装置、高能粒子加速器等领域。随着中国聚变工程实验堆（China Fusion Engineering Test Reactor,CFETR）及环形正负电子对撞机（Circular Electron Positron Collider,CEPC）等大科学项目的推进,对未来超导导体的性能均提出了更高的要求,急需开展背场下大电流导体直流性能实验研究。本文建立了最大背场6T、最大测试电流30kA的直样超导导体直流性能测试平台,发展了低温下大电流精确测量技术、样品横向载荷施加与监控技术、电位点处理技术等关键测试技术,并开展了中、小尺寸导体、大导体子缆的低温直流性能实验研究及理论性能分析。本论文首先对导体测试装置进行总体设计,具体包括装置的系统组成及参数确定、样品电流范围及供电方式确定、样品空间优化等。为保证背场磁体安全运行,为其设计了失超探测及保护方案,并对失超保护阈值、保护电阻阻值进行分析选取。针对电流引线漏热大的问题,自主研制了一对6kA气冷高温超导电流引线,单根引线的漏热约为2.07W。在气冷高温超导电流引线漏热优化方面,提出的新的温度解的形式,实现了铜段与超导段微元温度分布解的形式统一,并赋予部分系数物理含义。设计的新型的“CIC束状”铜换热器结构不仅增加了换热面积,还增加了氦气紊流度,提高了对流换热系数,解决了引线铜段的冷却问题。为了进一步减小装置的漏热,对杜瓦结构及其传热结构进行优化设计并进行漏热分析,优化后装置整体漏热约为10.4W。超导变压器设计与研制,具体包括变压器电磁参数优化、变压器磁体设计、变压器低电阻端子设计、变压器固定结构设计、变压器低温实验等。变压器磁体设计具体包括变压器结构设计、磁体绕组参数优化、次级绕组设计、变压器电磁-结构耦合分析、变压器失超保护系统设计。其中,次级绕组设计综合考虑了次级电流测量、变压器背场下受力及较少次级回路接头电阻个数。针对变压器在背场下受力发生扭转的问题,开展了变压器与背场的位置关系优化、变压器固定结构设计及强度校核。针对霍尔片电流测量时易受杂散场影响的问题,提出了“霍尔对”的次级电流测量方法,减小了装置复杂杂散场对电流测量的影响。为了减小测试时对样品的能量干扰,针对铠装导体及电缆的测试,分别设计了被动法样品支撑及主动法样品支撑,并分析了被动法样品支撑的装配间隙的选取,研究了主动法样品支撑降温、电磁力对样品上横向载荷的影响。综合考虑到测试导体的稳定性裕度以及横向载荷对样品性能的影响,总结出样品室温横向预载荷的选择依据。除了对横向载荷施加技术展开研究,还给出了样品横向载荷的监控方法。根据电缆中超导线的换位情况,给出了“等电势点”及“单线监测”不同的电位点处理方法。在国内首次开展了 NbTi Rutherford 缆、MgB2 CICC（Cable-in-conduit Conductors）导体、YBCO CORC（Conductor on Round Core）缆低温直流性能实验研究。分析了感应电压变化对测试结果的影响,提出了“合理的恒定初级电流变化率+电压修正”及“初级电流变化率指数变化”2种措施以减小这种影响,并对装置临界电流及电阻阻值的测量误差进行了分析。为了对导体性能进行评估,考虑到导体电缆上的磁场分布及等效应变,将导体性能与超导单线性能进行比较,采用“最大场”及“平均电势”的评估方法开展大电流导体直流性能理论分析研究,并结合样品电缆结构、电位点处理方式对这两种评估方法进行比较。
任飞安[6]（2019）在《能量天平的磁体系统温度场分析研究》文中指出为建立千克量子化基准与实物基准之间的关系,中国计量科学研究院提出能量天平方案,其普朗克常数测量不确定度已达2.4×10-7,处国际领先地位。精确测量普朗克常数需要磁体系统在气隙中产生线性度高、稳定性好的水平磁场。为降低温度对气隙中磁场的影响,将普朗克常数的测量不确定度降至5×10-8以下,本文对两种磁体系统的温度场分别展开研究,进行了如下工作:1.利用有限元分析方法仿真得到电磁体系统温度场分布的三维图像。并利用高精度铂电阻对磁轭以及气隙空气的温度进行实测,测量悬挂线圈电阻变化反推线圈温升,最终确定磁体系统的温度变化曲线。仿真结果与实验数据相互印证,得到温度对普朗克常数测量存在10-5量级的影响。2.采用“温度变换法”精确测量永磁体系统的温度系数为-2.92×10-44 K-1,实验证明永磁体物理结构与其温度系数无明显关系,为科学评估温度对普朗克常数测量不确定度的影响打下基础。3.在永磁体系统温度场理论分析的基础上,发现永磁体系统在垂直方向上存在温度差异,磁盘在不同工作模式下存在温度差异。再利用有限元分析方法仿真得到温度场的二维图像。最后对磁盘温度进行实测,验证理论与仿真结果的正确性,得到温度对能量天平普朗克常数测量不确定度的最大影响在10-7量级。在上述工作基础上,提出改变磁体表面辐射系数,改变天平支撑结构等可行方案,以减小磁盘的温度差异,提升气隙中磁场的稳定性和均匀性,减小温度引入的普朗克常数测量不确定度。
张晓年[7]（2012）在《一种新型结构功率线绕电阻器的研制与分析》文中提出采用特殊的定位工装,改进生产工艺实现了RXGT新型线绕电阻器的研制,并通过优选合金线和严格要求合金线成分来提高电阻器的稳定性,同时结合线绕电阻器本身的性能对高频原理进行了探讨。结果表明:定位工装能够提高产品的批量生产效率,优选合金线能够提高产品阻值的稳定性,改进生产工艺则可以提高产品电感量的指标要求。
Dan Strassberg[8]（1997）在《漫谈温度传感器的选择》文中提出用温度传感器来测量温度,是一个老生常谈的课题,而且许多人对接触式温度传感器讲起来可能是头头是道,但真正用起来却未必能应付自如,也许还得行家才行。但如果能弄清还有几种可替代的选择,并了解更多的知识,那就更对您的工作有利而无弊。
赵明军[9]（2020）在《多匝小回线瞬变电磁特性研究》文中指出多匝小回线瞬变电磁法的回线装置影响使发射电流关断时间增长,接收信号发生畸变,再加之收发回线间的强烈互感,使探测结果与实际地层的导电特征存在较大差异。本文从收发回线的等效电路出发,对多匝小回线瞬变电磁的装置影响进行深入研究,多匝小回线装置由于电感增加会使接收回线工作于过阻尼状态,因此需要增加匹配电阻值使其工作于临界阻尼状态。对于发射回线来说,时间常数的增大极大延长了关断时间,除会使地质体中涡旋电流强度降低外还会使其处于感应阶段时间增加,导致接收信号衰减时间后移并显着增加。对于收发回线间的互感研究采用Ansoft Maxwell电磁模拟仿真软件模拟收发装置在不同位置时的互感强度,并通过实验的方法验证了轴向分离两回线时对一次场有更好削弱效果。全面分析线圈电感和分布电容的影响因素,并在此基础上计算了多匝小回线线圈的品质因数Q,由于线圈边长小致使Q值较大,使发射回线中的关断电流受到严重影响。最后,通过示波器及Terra实验研究了多匝小回线作为收发回线时感应信号衰减时间的后延和增加现象。该论文有图39幅,表11个,参考文献70篇。
余龙舟[10]（2019）在《高功率微波新型扫描阵列天线研究》文中提出高功率微波源的输出功率难以突破固有的物理限制,通过空间功率相干合成的办法可以实现更高的等效辐射功率。空间功率相干合成对高功率微波天线提出了新的要求,不仅要求具有高功率容量、高辐射增益,还要求天线具有模块化、紧凑的结构设计、低制造成本以及具备波束扫描的能力。现有的高功率微波天线在波束扫描范围、制造成本、结构紧凑化等方面还无法很好满足应用需求。在此背景下,本文提出并研究了两种新型的波束扫描阵列天线。第一种是圆锥扫描分控的阵列天线:利用近场相位转换原理,通过旋转馈源阵面和介质透镜实现了二维波束扫描;第二种是行列扫描分控的阵列天线:该天线基于矩形波导窄边缝隙耦合馈电,以螺旋单元作为辐射单元,通过整列控制旋转螺旋单元的角度,并配合移相器调节每行波导内微波输入的初始相位,实现了整行列控制的二维波束扫描。论文针对以上内容开展了理论分析、数值模拟研究,并对部分结构开展了实验研究。具体工作有:（1）提出并研究了圆锥扫描分控的阵列天线。该阵列天线由馈源阵列天线和介质透镜构成。馈源天线为径向线波导缝隙耦合的螺旋阵列天线,本文详细分析了径向线波导缝隙耦合螺旋阵列天线的工作原理和设计过程,并设计了一直径为600 mm,一共包含17圈同心圆环阵列的天线,并对工作于Ku波段14.25 GHz的设计模型开展了系统的数值模拟研究,数值计算结合理论分析表明:该径向线波导缝隙耦合的螺旋阵列天线的反射低于-20.0 dB,口面效率超过70.0%,偏离法向的最大波束倾角为20°,功率容量达到600 MW。介质透镜采用介质填充椭圆孔阵列,对该透镜的性质进行了数值模拟研究,结果表明该介质透镜辐射波束偏离法向的最大波束倾角为22°,功率容量超过500 MW。并对馈源天线与介质透镜进行了联合仿真。数值计算结果表明:通过同步旋转馈源天线和介质透镜,实现了圆锥扫描分控,二维波束扫描达到空间90°锥角范围,系统反射低于-22.0 dB。（2）提出并研究了基于矩形波导窄边缝隙耦合馈电的直线阵列天线。该直线阵列天线是行列扫描分控阵列天线构成的基础。为了实现一维波束扫描,本文提出利用矩形波导窄边缝隙耦合馈电,利用螺旋单元作为辐射单元,通过旋转螺旋单元的螺旋线结构实现了沿波导宽边平面的一维波束扫描。本文对该直线阵列的设计理论及方法开展了系统的研究,解决了天线反射和波束漂移等问题。设计一工作于X波段9.4 GHz的直线阵列天线,并开展了数值模拟研究。结果表明:该直线阵列的反射低于-25.0 dB,一维纵向波束扫描范围在±30°范围内,副瓣电平低于-10.0 dB,主瓣增益变化低于1.5 dB。为后期组阵需要,设计并加工了一段工作在8.4 GHz的直线阵列天线,辐射单元数目为100个,并对该直线阵列天线进行了实验研究。实验测量结果表明:直线阵列的S参数的测量结果与仿真计算结果吻合,天线反射低于-35.0 dB;通过比较法测量的直线阵列的增益为28.4 dB;实验研究了直线阵列天线的一维波束扫描特性,在±35°范围内,辐射主瓣性能保持较好,增益变化不超过2.5 dB,但是系统交叉极化分量波瓣电平达到-8.0 dB,交叉极化波瓣产生的主要原因是由螺旋线的加工误差造成,并提出了改进的螺旋线结构。初步开展了直线阵列的功率容量的研究,初步验证了其输出25 MW（脉宽约25 ns）的能力。（3）提出并研究了新型旋转调节式波导移相器。该移相器基于矩形波导窄边缝隙电桥,通过将线极化模式转换成圆极化模式,圆极化模式反射波的相位由末端的旋转关节控制。本文详细分析了该旋转调节式波导移相器的特点及工作原理,并进行了仿真验证。数值模拟计算结果表明:该移相器能够实现连续线性相位调节,回波损耗小于0.1%。设计并加工了一波导移相器,该移相器工作于8.4 GHz,实验测量结果表明在非谐振状态下,能够实现线性相位调节,能量传输效率超过95.0%,但是在个别状态存在谐振现象。通过改进移相器结构,利用波导缝隙将谐振模式辐射即可有效抑制器件谐振。（4）提出并研究了行列扫描分控的阵列天线。该阵列天线主要由功分网络、移相器和辐射阵列三部分构成。功率分配网络采用了圆波导TM01-TE01-矩形波导TE10的工作模式,数值模拟结果显示在8.4 GHz实现了一分20路功率均分,插入损耗小于-0.4 dB,功率容量约1.5 GW。并以移相器和辐射波导为基础,搭建了行列扫描分控的阵列天线系统。利用数值模拟方法,建立了一个由20行波导,每行波导上有15个辐射单元构成的20×15矩形栅格阵列的简化模型,系统研究了辐射阵列的二维波束扫描能力。数值模拟结果显示:该行列扫描分控阵列天线在垂直于波导轴向的平面内,能够实现±35°范围的波束扫描,副瓣电平低于-12.0 dB,增益变化小于2.0 dB;在垂直于波导轴线的平面内能够实现±30°范围的波束扫描,副瓣电平低于-10.0 dB,增益变化小于1.5 dB。
二、线绕电阻时间常数的测量（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、线绕电阻时间常数的测量（论文提纲范文）
（1）准确测量四端电阻时间常数的关键技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 建立四端电阻时间常数标准的必要性 |
| 1.1.1 电阻时间常数的定义 |
| 1.1.2 宽频功率国家标准建立的需要 |
| 1.1.3 冲击电流测量溯源的需求 |
| 1.1.4 交流电流AC-DC差溯源的新途径 |
| 1.1.5 课题的来源及其研究意义 |
| 1.2 国内外电阻时间常数标准的研究现状 |
| 1.2.1 基于理论计算实现电阻时间常数标准 |
| 1.2.2 基于参数测量法建立四端电阻时间常数标准 |
| 1.3 国内外实现四端电阻量程扩展方案 |
| 1.3.1 交流电桥法 |
| 1.3.2 爬台阶法 |
| 1.4 存在的问题 |
| 1.5 论文的主要研究内容 |
| 第2章 建立四端电阻时间常数标准的研究 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 “同轴拉线”结构四端电阻的结构设计及参数分析 |
| 2.2.1 设计原理 |
| 2.2.2 等效电路结构模型及理论分析 |
| 2.2.3 结构参数设计 |
| 2.2.4 等效电感测量关键技术 |
| 2.3 两路已知电流关系的实现 |
| 2.3.1 二进制感应分流器的基本原理 |
| 2.3.2 二进制感应分流器误差分析 |
| 2.3.3 二进制感应分流器的结构设计 |
| 2.3.4 二进制感应分流器的自校验 |
| 2.4 正交分量溯源标准的四端互感 |
| 2.4.1 互感结构原理及电路模型 |
| 2.4.2 圆形回路之间的互感分析 |
| 2.4.3 nH量级四端互感的研制 |
| 2.4.4 互感的准确测量及其不确定度评估 |
| 2.5 “同轴拉线”型四端电阻中正交分量的准确测量 |
| 2.5.1 四端电阻的等效电感测量原理及实验结果 |
| 2.5.2 结构替换时等效电感不一致性的评估 |
| 2.5.3 四端电阻的分布电容测量原理及结果 |
| 2.6 四端电阻时间常数及相角的准确测量 |
| 2.6.1 测量结果 |
| 2.6.2 不确定度评估 |
| 2.7 本章小结 |
| 第3章 四端电阻量值传递装置的研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 实现四端电阻量值传递的方法 |
| 3.2.1 电流比较仪法 |
| 3.2.2 变压器电桥法 |
| 3.2.3 电位差计法 |
| 3.3 四端电阻量值传递新方法的提出 |
| 3.3.1 传递新方法的基本原理 |
| 3.3.2 新方法的主要优点 |
| 3.3.3 要解决的主要技术难题 |
| 3.4 2:1电压比例的相角标准 |
| 3.4.1 自耦式感应分压器基本原理 |
| 3.4.2 自耦式感应分压器的激磁误差 |
| 3.4.3 自耦式感应分压器的误差容性 |
| 3.4.4 二进制感应分压器的结构设计及误差分析 |
| 3.4.5 二进制感应分压器自校验原理及实验结果 |
| 3.5 10:1和100:1电压比例相角标准 |
| 3.5.1 串并联结构电阻分压器的基本原理 |
| 3.5.2 串并联型电阻分压器等效电路模型及误差分析 |
| 3.5.3 串并联型电阻分压器自校验及实验结果 |
| 3.6 三支路感应分流器的实现 |
| 3.7 本章小结 |
| 第4章 四端电阻量值传递的实验及数据分析 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 四端电阻量值传递装置 |
| 4.3 量值传递装置的主要影响因素 |
| 4.3.1 隔离式感应分压器的相角偏差校验 |
| 4.3.2 感应分压器初级输入端的负载影响 |
| 4.3.3 三支路感应分流器中电流一致性校验 |
| 4.3.4 寄生电容的泄漏误差 |
| 4.4 量值传递装置实现四端电阻的准确测量 |
| 4.4.1 高频大电流四端电阻的研制 |
| 4.4.2 基于100:1电压比例测量原理及实验结果 |
| 4.4.3 基于10:1电压比例测量原理及实验结果 |
| 4.4.4 基于2:1电压比例测量原理及实验结果 |
| 4.4.5 同名义值四端电阻的测量原理及实验结果 |
| 4.5 电流系数测量原理分析及实验结果 |
| 4.6 四端电阻相角测量不确定度的评估 |
| 4.7 旁证实验及国际比较 |
| 4.7.1 三角闭合实验 |
| 4.7.2 国际比较 |
| 4.8 本章小结 |
| 结论 |
| 参考文献 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 |
| 致谢 |
| 个人简历 |
（2）10kV/35kV电子式电压/电流互感器研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题背景 |
| 1.2 电磁式互感器工作原理及其弊端 |
| 1.2.1 电磁式互感器的工作原理 |
| 1.2.2 电磁式互感器的弊端 |
| 1.3 新型互感器的工作原理及国内外研制现状 |
| 1.3.1 新型互感器的工作原理 |
| 1.3.2 国内外新型互感器研究的主要进展 |
| 1.4 课题来源和各章节安排 |
| 第二章 电阻分压式电压互感器的理论分析与设计研究 |
| 2.1 电阻分压式电压互感器的理论分析 |
| 2.1.1 分压器的工作原理 |
| 2.1.2 电阻分压器测量误差的来源 |
| 2.2 减少电阻分压器测量误差的措施 |
| 2.2.1 减小杂散电容对测量准确度的影响 |
| 2.2.2 针对其他影响因素的补偿措施 |
| 2.3 互感器一次部分的设计 |
| 2.3.1 电阻分压器的设计 |
| 2.3.2 屏蔽设计 |
| 2.3.3 绝缘结构设计 |
| 2.3.4 温度稳定性试验 |
| 2.3.5 外电场影响试验 |
| 2.4 互感器二次电路的设计 |
| 2.4.1 移相器的工作原理 |
| 2.4.2 滤波器的设 |
| 2.4.3 二次电路的线性度和温度稳定性试验 |
| 第三章 Rogowski 线圈电流互感器的理论分析和研究 |
| 3.1 Rogowski 线圈的基本原理和结构 |
| 3.2 Rogowski 线圈的工作原 |
| 3.2.1 原理推导过程中的假设条件 |
| 3.2.2 Rogowski 线圈的两种工作状态 |
| 3.3 Rogowski 线圈用于电力系统稳态和暂态响应 |
| 3.4 Rogowski 线圈的设计 |
| 3.4.1 电参数计算 |
| 3.4.2 骨架材料的选择 |
| 3.4.3 Rogowski 线圈抗干扰设计 |
| 3.5 Rogowski 线圈的绝缘结构设计 |
| 3.6 二次电路的设计 |
| 3.6.1 RC 无源积分器 |
| 3.6.2 有源积分器 |
| 3.6.3 积分器对电力系统暂态电流的响应 |
| 第四章 互感器的性能试验及电磁兼容性设计 |
| 4.1 电阻式电压互感器的性能试验 |
| 4.1.1 主要技术参数和试验依据 |
| 4.1.2 试验的实施与结果 |
| 4.1.3 试验结论分析 |
| 4.2 Rogowski 线圈电流互感器性能试验 |
| 4.2.1 校验方法 |
| 4.2.2 试验及结果分析 |
| 4.2.3 下一步有待进行的工作 |
| 4.3 电磁兼容性设计 |
| 4.3.1 电路板的抗干扰设计 |
| 4.3.2 屏蔽 |
| 4.3.3 电源抗干扰措施 |
| 全文总结与展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录 |
（3）电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究（论文提纲范文）
| 作者简介 |
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景和意义 |
| 1.2 国内外研究概况与存在的问题 |
| 1.2.1 研究概况 |
| 1.2.2 存在问题 |
| 1.3 本文研究内容及安排 |
| 1.3.1 研究内容 |
| 1.3.2 论文内容安排 |
| 第二章 电子元器件噪声与模型 |
| 2.1 电子元器件噪声分类与特性 |
| 2.1.1 噪声的分类 |
| 2.1.2 电子元器件噪声的特性 |
| 2.2 电子元器件噪声模型 |
| 2.2.1 热噪声模型 |
| 2.2.2 散粒噪声模型 |
| 2.2.3 G-R 噪声模型 |
| 2.2.4 1/f 噪声模型 |
| 2.2.5 RTS 噪声模型 |
| 2.3 小结 |
| 第三章 电子元器件噪声测试方法与技术 |
| 3.1 噪声测试基本参量 |
| 3.1.1 输出噪声 |
| 3.1.2 等效输入噪声 |
| 3.1.3 噪声系数 |
| 3.1.4 传输函数 |
| 3.2 噪声测试偏置技术 |
| 3.2.1 直流偏置技术 |
| 3.2.2 交流偏置技术 |
| 3.2.3 低噪声偏置源 |
| 3.3 低噪声放大技术 |
| 3.3.1 双通道互谱测试技术 |
| 3.3.2 并联结构的低噪声方法 |
| 3.3.3 电流噪声扩频测试技术 |
| 3.4 数据采集技术 |
| 3.4.1 DMA 双缓冲技术 |
| 3.4.2 数据流盘技术 |
| 3.5 噪声数据处理技术 |
| 3.5.1 白噪声与 1/f 噪声拟合 |
| 3.5.2 G-R 噪声的拟合 |
| 3.5.3 RTS 噪声提取 |
| 3.6 测试误差分析 |
| 3.6.1 放大器误差 |
| 3.6.2 数据采集卡误差分析 |
| 3.6.3 系统带宽误差分析 |
| 3.7 小结 |
| 第四章 器件介观散粒噪声测试与应用 |
| 4.1 器件尺度与介观散粒噪声 |
| 4.2 散粒噪声测试原理与方法 |
| 4.2.1 基于 SQUID 的散粒噪声测试 |
| 4.2.2 基于 SIS 的散粒噪声测试 |
| 4.2.3 低噪声电压放大器的散粒噪声测试 |
| 4.3 散粒噪声测试条件研究 |
| 4.3.1 温度和偏置条件 |
| 4.3.2 测试频率 |
| 4.3.3 系统背景噪声要求 |
| 4.4 测试系统建立与验证 |
| 4.4.1 测试系统设计 |
| 4.4.2 系统操作与验证 |
| 4.4.3 验证样品测试结果与分析 |
| 4.5 基于散粒噪声背散射系数提取 |
| 4.5.1 散粒噪声背散射系数理论算法 |
| 4.5.2 参数提取方法及步骤 |
| 4.5.3 实验与模拟提取计算 |
| 4.6 基于散粒噪声的可靠性表征 |
| 4.7 小结 |
| 第五章 电阻器噪声测试技术与应用 |
| 5.1 电流噪声系数 |
| 5.2 现有标准存在的问题及改进方法 |
| 5.2.1 改进的桥式测量电路 |
| 5.2.2 带通滤波器改进 |
| 5.2.3 消除隔离电阻影响 |
| 5.2.4 测试电压优化 |
| 5.3 测试系统设计与制作 |
| 5.3.1 硬件系统 |
| 5.3.2 软件系统 |
| 5.4 薄、厚膜电阻器电流噪声系数测试 |
| 5.4.1 薄膜电阻器 |
| 5.4.2 厚膜电阻器 |
| 5.4.3 实验方案 |
| 5.4.4 测试结果 |
| 5.5 电阻浆料低频噪声表征 |
| 5.5.1 噪声与浆料可靠性 |
| 5.5.2 电阻浆料低频噪声表征 |
| 5.5.3 样品及测试结果讨论 |
| 5.6 小结 |
| 第六章 光电探测器噪声及应用表征 |
| 6.1 光电探测器低频噪声测试 |
| 6.1.1 光电探测器低频噪声测量原理 |
| 6.1.2 测试系统构建 |
| 6.2 PbS 红外探测器低频噪声物理模型 |
| 6.2.1 1/f 噪声物理模型 |
| 6.2.2 G-R 噪声物理模型 |
| 6.2.3 噪声模型验证 |
| 6.3 PbS 红外探测器缺陷表征研究 |
| 6.3.1 1/f 噪声表征表面缺陷 |
| 6.3.2 G-R 噪声表征深能级缺陷 |
| 6.4 雪崩光电二极管噪声测试应用 |
| 6.4.1 APD 噪声与性能影响 |
| 6.4.2 APD 测试结果分析 |
| 6.4.3 APD 噪声应用 |
| 6.5 小结 |
| 第七章 微波与射频器件噪声测试与应用 |
| 7.1 微波器件低频噪声与应力损伤 |
| 7.1.1 器件噪声来源 |
| 7.1.2 微波与射频器件热应力损伤 |
| 7.1.3 微波与射频器件的静电应力损伤 |
| 7.2 微波器件测试系统与方案 |
| 7.2.1 I-V 特性测试 |
| 7.2.2 低频噪声测试系统 |
| 7.2.3 测试样品与方案 |
| 7.3 热应力测试与分析 |
| 7.3.1 电学参数热应力退化分析 |
| 7.3.2 低频噪声结果与分析 |
| 7.3.3 噪声应用于热应力表征 |
| 7.4 ESD 应力测试与分析 |
| 7.4.1 射频开关测试与分析 |
| 7.4.2 射频放大器噪声测试与分析 |
| 7.4.3 噪声应用与射频器件表征 |
| 7.5 小结 |
| 第八章 结论 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 |
（4）低温微量热器读出电子学系统的研究与设计（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 引言 |
| 1.1 微量热器的历史 |
| 1.2 低温微量热器的优缺点 |
| 1.3 低温微量热器在无中微子双β衰变实验中的应用 |
| 1.3.1 无中微子双β衰变 |
| 1.3.2 无中微子双β衰变研究方法 |
| 1.3.3 微量热器在无中微子双β衰变实验中的应用 |
| 1.4 选题背景 |
| 参考文献 |
| 第2章 微量热器理论及其读出电子学系统 |
| 2.1 微量热器读出电子学系统概述 |
| 2.2 理想微量热器模型 |
| 2.2.1 微量热器的静态热平衡 |
| 2.2.2 微量热器输入信号能量的影响 |
| 2.2.3 微量热器中的电热反馈 |
| 2.2.4 系统响应函数与输出信号 |
| 2.3 微量热器的反馈框图与噪声分析 |
| 2.3.1 微量热器的框图分析 |
| 2.3.2 吸收体热力学噪声 |
| 2.3.3 直流偏置部分噪声 |
| 2.3.4 信号读出部分噪声 |
| 2.3.5 直流偏置电路最优工作点的选取 |
| 2.4 微量热器的读出电子学系统需求分析 |
| 2.4.1 直流偏置电路 |
| 2.4.2 电压信号读出部分需求分析 |
| 2.4.3 前置放大电路 |
| 2.4.4 程控增益放大和基线调整电路 |
| 2.4.5 抗混叠滤波电路 |
| 2.4.6 模数转换电路 |
| 2.5 关键技术小结 |
| 参考文献 |
| 第3章 直流偏置电路 |
| 3.1 直流偏置电路的结构 |
| 3.2 负载电阻 |
| 3.3 精密电位器和分压电阻 |
| 3.4 直流电源 |
| 3.5 NTD静态阻值测量 |
| 3.6 直流偏置电压范围 |
| 3.7 直流偏置电路的优化设计 |
| 参考文献 |
| 第4章 前置放大电路 |
| 4.1 前置放大电路的输入级 |
| 4.1.1 JFET的关键参数 |
| 4.1.2 JFET的选型 |
| 4.2 前置放大电路的设计 |
| 4.3 输出电压补偿电路 |
| 4.4 前置放大电路的PSPICE仿真 |
| 4.4.1 差分信号的交流响应 |
| 4.4.2 共模信号的交流响应 |
| 4.4.3 噪声仿真 |
| 参考文献 |
| 第5章 抗混叠滤波电路 |
| 5.1 混叠与抗混叠滤波 |
| 5.2 滤波器概述 |
| 5.2.1 滤波器的特性参数 |
| 5.2.2 二阶有源低通滤波 |
| 5.2.3 品质因数与滤波器种类 |
| 5.2.4 群时延 |
| 5.3 两种常用的二阶滤波电路结构 |
| 5.3.1 Sallen-Key型滤波电路 |
| 5.3.2 多重反馈型滤波电路 |
| 5.3.3 两种低通滤波电路的比较 |
| 5.4 八阶Sallen-Key型滤波电路 |
| 5.4.1 幅频响应仿真 |
| 5.4.2 群时延仿真 |
| 5.4.3 噪声仿真 |
| 5.5 全差分多重反馈型滤波电路 |
| 5.5.1 幅频响应仿真 |
| 5.5.2 群时延仿真 |
| 5.5.3 噪声仿真 |
| 5.6 集成滤波电路 |
| 5.6.1 集成滤波芯片的选型 |
| 5.6.2 集成滤波芯片的配置与功能 |
| 5.6.3 输出缓冲滤波电路 |
| 参考文献 |
| 第6章 模数转换电路 |
| 6.1 ADC的关键参数 |
| 6.1.1 ADC的静态参数 |
| 6.1.2 ADC的动态参数 |
| 6.2 Σ—ΔADC简介 |
| 6.3 Σ-ΔADC的选型 |
| 6.4 基于ADS1262 ADC芯片的模数转换电路 |
| 6.5 基于AD7177-2 ADC芯片的模数转换电路 |
| 参考文献 |
| 第7章 读出电子学系统的实现与测试 |
| 7.1 直流偏置电路与前置放大电路的实现 |
| 7.2 数字读出电路的实现 |
| 7.2.1 基于ADS1262的数字读出电路 |
| 7.2.2 基于AD7177-2的数字读出电路 |
| 7.3 模数转换电路性能测试 |
| 7.3.1 基于ADS1262芯片模数转换电路的测试 |
| 7.3.2 基于AD7177-2芯片模数转换电路的测试 |
| 7.4 抗混叠滤波电路测试 |
| 7.4.1 集成滤波电路测试 |
| 7.4.2 Sallen-Key型滤波电路测试 |
| 7.4.3 多重反馈(MFB)型滤波电路测试 |
| 7.4.4 滤波电路的比较 |
| 7.5 前置放大电路测试 |
| 7.5.1 幅频响应 |
| 7.5.2 等效输入噪声谱密度 |
| 7.6 直流偏置电路 |
| 7.6.1 电压偏置范围测试 |
| 7.6.2 噪声测试 |
| 7.7 测试结论 |
| 参考文献 |
| 第8章 总结与展望 |
| 8.1 论文内容总结 |
| 8.2 未来研究方向的展望 |
| 参考文献 |
| 附录 |
| 致谢 |
（5）大电流导体直流性能测试装置研制与实验研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 大电流超导导体技术发展 |
| 1.1.1 大电流超导导体需求 |
| 1.1.2 大电流超导导体 |
| 1.2 大型超导导体测试装置 |
| 1.3 本论文研究的主要内容及意义 |
| 第2章 背场磁体系统 |
| 2.1 导体测试装置的系统组成 |
| 2.2 背场磁体 |
| 2.2.1 磁体参数 |
| 2.2.2 磁体电源 |
| 2.3 背场磁体失超探测及保护系统 |
| 2.3.1 背场磁体失超保护 |
| 2.3.2 失超保护阈值 |
| 2.3.3 泄能电阻 |
| 2.4 高温超导电流引线优化与研制 |
| 2.4.1 气冷电流引线优化 |
| 2.4.2 电流引线优化结果 |
| 2.4.3 铜换热器设计及校核 |
| 2.4.4 气冷高温超导电流引线研制 |
| 2.5 杜瓦结构与漏热分析 |
| 2.6 本章小结 |
| 第3章 超导变压器设计及研制 |
| 3.1 电磁参数优化 |
| 3.2 变压器磁体设计 |
| 3.2.1 变压器磁体结构 |
| 3.2.2 变压器磁体绕组参数 |
| 3.2.3 超导变压器电磁-结构耦合分析 |
| 3.2.4 变压器磁体失超保护 |
| 3.3 变压器低电阻端子 |
| 3.4 变压器固定方式及强度校核 |
| 3.4.1 变压器背场下受力分析 |
| 3.4.2 变压器固定形式及强度校核 |
| 3.5 变压器实验与性能分析 |
| 3.6 本章小结 |
| 第4章 大电流导体关键测试技术研究 |
| 4.1 低温下大电流测量技术 |
| 4.1.1 常规次级电流测量方法 |
| 4.1.2 “霍尔对”次级电流测量方法 |
| 4.1.3 背场对电流测量的影响 |
| 4.1.4 变压器磁场对电流测量的影响 |
| 4.1.5 样品电流方向 |
| 4.2 样品横向载荷施加技术 |
| 4.2.1 主动法 |
| 4.2.2 被动法 |
| 4.2.3 横向预载荷选择 |
| 4.3 样品横向载荷监控技术 |
| 4.3.1 常见应力测量方法与比较 |
| 4.3.2 电缆横向载荷监控 |
| 4.4 电位点处理技术 |
| 4.5 本章小结 |
| 第5章 大电流导体直流性能实验研究 |
| 5.1 NbTi Rutherford缆直流性能实验研究 |
| 5.1.1 样品参数 |
| 5.1.2 样品准备 |
| 5.1.3 测试结果与讨论 |
| 5.2 MgB_2 CICC直流性能实验研究 |
| 5.2.1 样品参数 |
| 5.2.2 样品准备 |
| 5.2.3 测试结果与讨论 |
| 5.3 YBCO CORC缆直流性能实验研究 |
| 5.3.1 样品参数 |
| 5.3.2 样品准备 |
| 5.3.3 测试结果与讨论 |
| 5.4 测试误差分析 |
| 5.4.1 感应电压变化对l_c测量精度的影响 |
| 5.4.2 减小影响的措施 |
| 5.4.3 I_c及接头电阻测量误差分析 |
| 5.5 本章小结 |
| 第6章 大电流导体直流性能理论分析 |
| 6.1 超导单线性能 |
| 6.1.1 超导单线应变-临界性能 |
| 6.1.2 超导单线力学性能 |
| 6.2 导体磁场位形分析 |
| 6.2.1 电缆截面上磁场分布 |
| 6.2.2 解析解与ANSYS数值解结果比较 |
| 6.3 导体应变状态分析 |
| 6.4 导体直流性能分析 |
| 6.4.1 分析模型 |
| 6.4.2 I_c实验模拟(平均电势法) |
| 6.4.3 平均电势法与最大场法比较 |
| 6.5 本章小结 |
| 第7章 全文总结与展望 |
| 7.1 全文总结 |
| 7.2 主要创新性工作 |
| 7.3 展望 |
| 7.3.1 分流温度测试 |
| 7.3.2 样品可控变温 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 |
（6）能量天平的磁体系统温度场分析研究（论文提纲范文）
| 致谢 |
| 摘要 |
| abstract |
| 1 选题意义与背景 |
| 1.1 质量量子化进程 |
| 1.2 研究现状与文献综述 |
| 1.3 本文研究内容与技术路线 |
| 2 磁体系统温度场理论分析 |
| 2.1 温度对能量天平的影响 |
| 2.2 电磁体系统温度场理论分析 |
| 2.2.1 电磁体系统 |
| 2.2.2 电磁体系统温度分布及其影响 |
| 2.3 永磁体系统温度场理论分析 |
| 2.3.1 永磁体系统 |
| 2.3.2 永磁体系统温度分布及其影响 |
| 2.4 小结 |
| 3 电磁体系统温度场仿真与测量 |
| 3.1电磁体系统温度场仿真实验 |
| 3.1.1 耦合场的选择与参数确认 |
| 3.1.2 边界条件的加载 |
| 3.1.3 网格划分 |
| 3.1.4 求解器设置 |
| 3.1.5 仿真结果 |
| 3.2 电磁体系统温度场测量 |
| 3.3 小结 |
| 4 永磁体系统温度系数测量 |
| 4.1 钐钴永磁体温度系数 |
| 4.1.1 温度系数对磁场的影响 |
| 4.1.2 温度变换法 |
| 4.2 温度系数的测量 |
| 4.2.1 测量仪器的选型 |
| 4.2.2 上位机设计 |
| 4.2.3 测量结果分析 |
| 4.3 小结 |
| 5 永磁体系统温度场仿真与测量 |
| 5.1 模型简化及相关参数的确定 |
| 5.1.1 仿真模型的确定和优化 |
| 5.1.2 材料属性的确认 |
| 5.1.3 求解器的设置 |
| 5.2永磁体系统温度场仿真实验 |
| 5.2.1 电流大小对稳定性的影响 |
| 5.2.2 辐射系数对稳定性的影响 |
| 5.2.3均匀性实验 |
| 5.3 永磁体系统温度测量 |
| 5.3.1 实验准备 |
| 5.3.2 实验设计 |
| 5.3.3 磁盘垂直温度差异实验 |
| 5.3.4 间歇性通电温度实验 |
| 5.3.5 温度恢复实验 |
| 5.4 小结 |
| 6 总结与展望 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 作者简介 |
（7）一种新型结构功率线绕电阻器的研制与分析（论文提纲范文）
| 1 RXGT型电阻器产品特点 |
| 2 设计思路 |
| 3 技术参数 |
| 4 产品研制方法 |
| 4.1 引出端子轴向定位 |
| 4.2 引出端子径向定位 |
| 4.3 焊接 |
| 4.4 被覆层保护 |
| 4.5 电阻合金线材的选用 |
| 5 电感量指标的提高与高频性能分析 |
| 5.1 电感量指标的提高与测量方法 |
| 5.2 分析高频性能原理 |
| 6 产品应用 |
（9）多匝小回线瞬变电磁特性研究（论文提纲范文）
| 致谢 |
| 摘要 |
| abstract |
| 变量注释表 |
| 1 绪论 |
| 1.1 研究背景及意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.3 主要研究内容 |
| 2 多匝小回线瞬变电磁理论 |
| 2.1 矿井瞬变电磁法 |
| 2.2 瞬变电磁感应过程 |
| 2.3 多匝小回线信号衰减分析 |
| 2.4 多匝小回线场强 |
| 2.5 本章小结(Summary) |
| 3 收发回线分析 |
| 3.1 接收回线分析 |
| 3.2 发射回线分析 |
| 3.3 收发回线互感影响 |
| 3.4 本章小结 |
| 4 回线参数影响分析 |
| 4.1 回线电感影响因素分析 |
| 4.2 回线分布电容影响因素分析 |
| 4.3 多匝小回线品质因数Q |
| 4.4 示波器实验 |
| 4.5 本章小结 |
| 5 结论与展望 |
| 5.1 结论 |
| 5.2 展望 |
| 参考文献 |
| 作者简历 |
| 学位论文数据集 |
（10）高功率微波新型扫描阵列天线研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景 |
| 1.2 高功率微波天线及波束扫描的研究现状 |
| 1.2.1 高功率微波模式转换天线 |
| 1.2.2 高功率微波径向线螺旋阵列天线 |
| 1.2.3 高功率微波波导缝隙阵列天线 |
| 1.2.3.1 高功率微波一维扫描波导缝隙阵列天线 |
| 1.2.3.2 高功率微波二维波束扫描波导缝隙阵列天线 |
| 1.2.3.3 基于漏波波导的一维相位扫描阵列天线 |
| 1.2.3.4 高功率无移相器自旋转波束扫描天线 |
| 1.2.4 基于近场相位转换实现高功率波束扫描透镜天线 |
| 1.3 论文主要研究内容 |
| 第二章 圆锥扫描分控的阵列天线研究 |
| 2.1 径向线波导缝隙耦合的螺旋阵列天线 |
| 2.1.1 C形缝隙耦合馈电 |
| 2.1.1.1 C形缝隙耦合馈电结构及其特点 |
| 2.1.1.2 C形缝隙耦合结构的耦合特性分析 |
| 2.1.2 小螺旋辐射单元的设计 |
| 2.1.2.1 螺旋辐射单元的互耦及改善 |
| 2.1.2.2 螺旋单元的反射及改善 |
| 2.1.2.3 优化的螺旋辐射单元及性能 |
| 2.1.3 径向线波导缝隙耦合的螺旋阵列天线设计 |
| 2.1.3.1 螺旋辐射单元布局 |
| 2.1.3.2 天线口面电阻分布及径向线波导馈电形式的选择 |
| 2.1.3.3 C形缝隙耦合结构及消除反射脊结构尺寸 |
| 2.1.3.4 小螺旋单元螺旋线结构的旋转角度 |
| 2.1.3.5 径向线波导缝隙耦合的螺旋阵列天线仿真 |
| 2.2 介质透镜的波束偏转特性 |
| 2.3 二维波束扫描分析 |
| 2.3.1 馈源天线实现偏转波束 |
| 2.3.2 与介质透镜配合的二维波束扫描 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 行列分控式扫描阵列天线研究 |
| 3.1 矩形波导窄边C型缝隙的耦合特性 |
| 3.2 矩形波导窄边C形缝隙耦合馈电的直线阵列的设计 |
| 3.2.1 耦合结构设计及耦合辐射单元模型 |
| 3.2.2 矩形波导窄边缝隙耦合馈电的直线阵列天线设计及仿真研究 |
| 3.2.2.1 直线阵列反射消除 |
| 3.2.2.2 波导传播常数的修正 |
| 3.2.2.3 辐射场结构与功率容量分析 |
| 3.2.2.4 一维波束扫描与远场方向图分析 |
| 3.3 矩形栅格阵列的二维波束扫描特性 |
| 3.3.1 阵列布局与平面阵列的基本理论 |
| 3.3.2 平面矩形栅格的仿真分析 |
| 3.3.2.1 平面矩形栅格阵列的传输特性和电场分布 |
| 3.3.2.2 平面矩形栅格阵列横向平面内的一维波束扫描特性 |
| 3.3.2.3 空间二维波束扫描 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 功率分配网络及移相器的设计研究 |
| 4.1 功率分配网络的设计 |
| 4.2 新型旋转调节式波导移相器研究 |
| 4.2.1 新型旋转调节式波导移相器的结构及功能 |
| 4.2.2 新型旋转调节式波导移相器的仿真设计 |
| 4.2.2.1 矩形波导窄边缝隙电桥的优化设计 |
| 4.2.2.2 模式转换器的优化设计 |
| 4.2.2.3 圆极化反射器的优化设计 |
| 4.2.2.4 移相器整体的联合仿真 |
| 4.2.3 新型旋转调节式波导移相器的工程设计及公差分析 |
| 4.2.3.1 移相器的工程设计 |
| 4.2.3.2 新型旋转调节式波导移相器的公差分析 |
| 4.2.4 新型旋转调节式波导移相器的实验研究 |
| 4.2.5 移相器的热测实验方案 |
| 4.2.6 移相器的改进设计 |
| 4.3 整行列扫描分控的阵列天线系统 |
| 4.3.1 平面矩形栅格阵列的系统结构 |
| 4.3.2 平面矩形栅格阵列的实验规划 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 矩形波导缝隙耦合的扫描直线阵列天线实验研究 |
| 5.1 基于矩形波导窄边缝隙耦合的直线阵列天线的工程设计 |
| 5.2 基于矩形波导窄边缝隙耦合的直线阵列的公差分析 |
| 5.3 基于矩形波导窄边缝隙耦合的直线阵列的实验研究 |
| 5.3.1 直线阵列天线的S参数测量 |
| 5.3.1.1 传输参数S21的测量 |
| 5.3.1.2 反射参数S11的测量 |
| 5.3.2 直线阵列天线辐射性能的测量 |
| 5.3.2.1 直线阵列天线方向图的测量 |
| 5.3.2.2 天线增益和频率带宽特性测量 |
| 5.3.2.3 直线阵列天线波束扫描特性测量 |
| 5.4 螺旋辐射单元的改进 |
| 5.5 直线阵列天线的高功率实验测量 |
| 5.6 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 主要工作与基本结果 |
| 6.2 主要创新点 |
| 6.3 研究展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 作者在学期间取得的学术成果 |
四、线绕电阻时间常数的测量（论文参考文献）
- [1]准确测量四端电阻时间常数的关键技术研究[D]. 潘仙林. 哈尔滨工业大学, 2013(01)
- [2]10kV/35kV电子式电压/电流互感器研究[D]. 彭丽. 华中科技大学, 2004(02)
- [3]电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究[D]. 陈文豪. 西安电子科技大学, 2012(04)
- [4]低温微量热器读出电子学系统的研究与设计[D]. 汪洪潮. 中国科学技术大学, 2020(02)
- [5]大电流导体直流性能测试装置研制与实验研究[D]. 马红军. 中国科学技术大学, 2020(01)
- [6]能量天平的磁体系统温度场分析研究[D]. 任飞安. 中国计量大学, 2019(02)
- [7]一种新型结构功率线绕电阻器的研制与分析[J]. 张晓年. 电子元件与材料, 2012(04)
- [8]漫谈温度传感器的选择[J]. Dan Strassberg. 电子设计技术, 1997(12)
- [9]多匝小回线瞬变电磁特性研究[D]. 赵明军. 中国矿业大学, 2020(03)
- [10]高功率微波新型扫描阵列天线研究[D]. 余龙舟. 国防科技大学, 2019(01)